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梅特勒-托利多:用于測定顆粒粒度分布的篩分易巧稱量件上市

作者:梅特勒-托利多(中國) 2012-04-10T00:00 (訪問量:7568)

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梅特勒-托利多:用于測定顆粒粒度分布的篩分易巧稱量件上市
-- One Click?一鍵稱量篩分分析解決方案
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篩分易巧稱量件是可放置在精密天平秤盤上的選配件,用于固定篩堆安全放置在天平正確的位置。
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完整的
One Click? 一鍵稱量篩分分析解決方案
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使用天平觸摸屏上的
One Click?快捷鍵即可方便的啟動方法。使用自動稱量偵測,無需接觸任何按鍵,篩子就能被連續稱量。LabX在天平上提供了清晰的一步一步的指令,自動保存數據并進行計算。完整的解決方案專為您的流程需求而度身定制。

1
2
3
4
5
一鍵啟動任務
篩分
回稱
結果
記錄存檔

通過觸摸屏輸入樣品
ID。

通過
SmartTrac?指導樣品稱量。

聲音信號提示下一步篩分。

顯示分布的百分比。

所有數據被自動記錄下來。
無需任何按鍵,稱量所有空篩。
暫停任務,在篩分震動器上完成篩分。
自動計算出每個篩子所占質量的權重。
更多計算出的結果,例如尺寸d50網格篩子。
可隨時打印定制的有圖形曲線的報告。

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詳細信息,請訪問梅特勒-托利多網站:
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