時間：2018年12月12日 14:00 - 15:00
內容簡介：
作為應用領域最廣的粒度分析設備，激光衍射粒度儀有著其它粒度分析設備沒有的更寬的測量范圍，更高的重復性，更快的測量速度以及更簡便的操作。但我們所測樣品種類繁多，粒度分布極廣，所以如何確保儀器上下限粒度的極限測量？如何確保快速準確區分單峰、多峰樣品？如何簡化并規范操作流程？這些都是我們關注的焦點。
本講座將通過對樣品的前處理探討，以及測試過程中對激光粒度儀LS 13 320 XR軟硬件設計的詳細剖析，為您快速獲知任何所測樣品的準確粒度分布提供有力保障。
主講人簡介：
史艷輕
產品應用技術專家 貝克曼庫爾特生命科學市場部
在粉體制備、顆粒表征以及顆粒特性產品應用領域工作多年，有著豐富的樣品顆粒分析和檢測經驗，現為貝克曼庫爾特公司顆粒特性和計數產品專員，負責顆粒產品的技術和應用開發等相關工作。
美國貝克曼庫爾特公司于1997年由貝克曼公司和庫爾特公司合并成立，現已成為世界著名的顆粒分析儀器公司。作為顆粒特性分析領域的先驅和領導者，貝克曼庫爾特專注于為全球用戶創造卓越的價值。眾多應用領域如食品、制藥、化工等和國際組織如美國ASTM，國家航空航天局 （NASA）等均將貝克曼庫爾特的技術和產品定為標準方法或質量控制的專用儀器。秉承“為全球客戶提供富于創新和值得信賴的科學解決方案”的使命，貝克曼庫爾特不忘初心，不斷創新，致力于為客戶提供完整**的顆粒表征及粒度分析解決方案。
