日本日立SFT-110型X射線熒光鍍層厚度測量儀日本日立SFT-110型X射線熒光鍍層厚度測量儀
日本日立SFT-110型X射線熒光鍍層厚度測量儀日立（SEA1000AⅡ、EA1200VX、EA1300VX、EA6000VX，膜厚儀SFT-110、FT-110、SFT9300、SFT9355、SFT9455、SFT9500X、SFT9550X）SFT-110系列產品,搭載了高性能X射線管，實
礦石分析儀 手持式礦石檢測儀
STA4000A礦石分析儀在采礦行業中，標準檢驗分析的礦石元素包括：鈦，釩，鉻，錳，鐵，鈷，鎳，銅，鋅，銣，鍶，鋯，鈮，鉬，銀，錫，銻，鉭，鉿，鎢，鉛，鉍等。
Ux220制藥行業重金屬鉻快速分析儀
全面應對制藥行業鉻（Cr）含量的快速測試，由于鉻（Cr）元素熒光光子能量(5.4KeV)在非金屬材質中能夠很好的被激發。其他元素對鉻（Cr）元素影響較小。因而能夠比較準確的測試出非金屬中的鉻（Cr）含量。
NanoLED兆赫茲閃爍光源
用于TCSPC 熒光壽命測量及其他光學測量。閃爍頻率10k-1MHz。多個波長供選擇。產品NanoLED系列來自久負盛名的IBH公司。
牛津光譜儀,X射線熒光光譜儀,光譜儀
新款快速手持式X射線熒光分析儀 - X-MET7000 eXpress款X-MET7000 eXpress在檢測痕量元素時表現出佳性能，同時保證分析速度不受影響。X-MET7000 eXpress 使用牛津儀器 40 kV 的X射線光管和高分辨率高計數率硅漂移探測器(SDD)。我們的新款手持式X射線熒光分析儀擁有以下
美國scinco化學混合物的結構測定微X－射線熒光光譜儀
X-Pectra代表新一代的X射線微熒光光譜儀，它用來描述許多種材料的化學混合物的結構，包括固體，液體，薄膜和粉末 樣品。 X-Pectra桌面設計緊湊，是用專利的聚合毛細管透鏡技術的高強度錨準器；
手持式土壤重金屬x射線熒光光譜儀
可直接分析：固體、粉末、液體、濾紙中的空氣微粒、擦拭藥簽、各種設備表面、涂鍍層、植物等。 對土壤，腐殖質元素現場快速分析，植物汁液，以及植物體的元素快