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nanoIR2-s

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納米紅外吸收光譜?+?散射式近場顯微鏡

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AFM??????+???????sSNOM

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Anasys的nanoIR2s系統是市場上唯一一款同時具備納米尺度紅外吸收光譜測試（AFM-IR）和散射式近場成像(s-SNOM)功能的設備。AFM-IR功能采用專利化的光熱誘導共振技術（PTIR）創造性的使用AFM探針作為微區紅外吸收的傳感器，光譜的空間分辨率不再依賴光斑聚焦尺寸，空間分辨率優于100nm空間分辨率。sSNOM功能采用專利設計的振幅調制技術，獲得近場信號強度和相位的同步成像，最佳空間分辨率可達10nm。

該系統主要包括散射式近場顯微鏡模塊（sSNOM），納米紅外吸收檢測模塊（AFM-IR）和原子力顯微鏡模塊（AFM）。

幾個模塊的主要特點：

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一、s-SNOM散射式近場光學顯微鏡

散射式近場光學顯微鏡（s-SNOM）是一種先進的近場光學技術，使用金屬鍍層AFM探針代替傳統光纖探針來增強和散射樣品納米區域內的光輻射，從而獲得更高的空間分辨率。由于s-SNOM采用AFM針尖作為散射源，近場光學的分辨率僅由AFM針尖的曲率半徑決定，與入射光源的波長無關，s-SNOM的空間分辨率可達20nm（最佳可達10nm）。s-SNOM廣泛適用于無機物和有機物，尤其是具有高反射率，高介電常數和強光學共振的材料。

• 10nm空間分辨率近場成像和光譜
• 獨有快速成像和采譜技術，10倍于傳統spatio-spectral imaging
• 專利背景壓制技術和高效光學信號收集技術，確保高信噪比
• 預先校準光路，操作極其簡便
• 模塊化設計，可拓展性強
• 等離激元的高分辨率成像和分析
• 廣泛適用于各種無機物和有機物

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二、AFM-IR納米紅外光譜

AFM-IR技術是美國Anasys儀器公司研發的一款基于原子力顯微鏡（AFM）的材料表征技術，也是市面上唯一可以直接探測納米尺寸紅外吸收光譜的先進技術。AFM-IR采用功能強大的光熱誘導共振技術（PTIR），使紅外光譜的空間分辨率突破了光學衍射極限，提高至100nm以下，幫助研究人員更全面地了解納米尺度下樣品表面微小區域的化學信息。由于其實現了超高空間分辨率的紅外光譜采集，該技術曾榮獲2010年度美國R&D100大獎。

由于傳統的紅外光譜技術需要采集紅外光透過樣品，或在樣品表面反射的光信號，因此在檢測微小區域時必然受到光學衍射極限的限制，例如傅立葉紅外光譜（FTIR）的空間分辨率只有10～30 μm，全反射衰減紅外光譜（ATR-IR）的空間分辨率只有3～5 μm，難以滿足納米尺度下的檢測與表征需要。

美國Anasys儀器公司的第二代納米紅外光譜儀創造性地使用AFM探針針尖來檢測樣品的紅外吸收信號，從而實現了空間分辨率低于光學衍射極限的紅外光譜分析。

• 簡化制樣過程，操作便捷
• 納米級空間分辨率（<100nm）的光譜分析
• 高清晰紅外吸收成像
• 快速光譜測試，每條譜線采集時間~1min
• 準確可解析的紅外光譜，可以使用商業的IR數據庫進行化學鑒定
• 超高垂直靈敏度，可以進行超薄薄膜和單層膜的光譜測試
• 多功能、互補的測試，可以獲得納米尺寸度下表面形貌、機械性能、熱性和化學信息之間的相關性

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