納米紅外&散射式近場(chǎng)顯微鏡系統(tǒng)
產(chǎn)品名稱： 納米紅外&散射式近場(chǎng)顯微鏡系統(tǒng)
英文名稱： nanoIR2-s
產(chǎn)品編號(hào)： nanoIR2-s
產(chǎn)品價(jià)格： 0
產(chǎn)品產(chǎn)地： 美國(guó)
品牌商標(biāo)： ANASYS
更新時(shí)間： null
使用范圍： null
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nanoIR2-s
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納米紅外吸收光譜?+?散射式近場(chǎng)顯微鏡
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AFM??????+???????sSNOM
Anasys的nanoIR2s系統(tǒng)是市場(chǎng)上唯一一款同時(shí)具備納米尺度紅外吸收光譜測(cè)試（AFM-IR）和散射式近場(chǎng)成像(s-SNOM)功能的設(shè)備。AFM-IR功能采用專利化的光熱誘導(dǎo)共振技術(shù)（PTIR）創(chuàng)造性的使用AFM探針作為微區(qū)紅外吸收的傳感器，光譜的空間分辨率不再依賴光斑聚焦尺寸，空間分辨率優(yōu)于100nm空間分辨率。sSNOM功能采用專利設(shè)計(jì)的振幅調(diào)制技術(shù)，獲得近場(chǎng)信號(hào)強(qiáng)度和相位的同步成像，最佳空間分辨率可達(dá)10nm。
該系統(tǒng)主要包括散射式近場(chǎng)顯微鏡模塊（sSNOM），納米紅外吸收檢測(cè)模塊（AFM-IR）和原子力顯微鏡模塊（AFM）。
幾個(gè)模塊的主要特點(diǎn)：
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散射式近場(chǎng)顯微鏡模塊（sSNOM） |
納米紅外吸收檢測(cè)模塊（AFM-IR） |
原子力顯微鏡模塊（AFM） |
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檢測(cè)原理 |
1.?檢測(cè)散射光； 2.?提供光-物質(zhì)相互作用成像和光譜； |
1.?檢測(cè)官能團(tuán)振動(dòng)吸收產(chǎn)生的熱膨脹信號(hào)； 2.?提供真實(shí)的紅外吸收光譜和成像. |
工作模式：接觸、輕敲、相位、力曲線、力調(diào)制、橫向力、加熱探針原子力顯微鏡、其他模式可增加； |
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主要應(yīng)用 |
表面等離子體、納米天線、2D材料（石墨烯，BN），納米結(jié)構(gòu)，半導(dǎo)體，絕緣體，生命科學(xué)，高分子材料等 |
表面/界面分析，多相復(fù)合結(jié)構(gòu)，多層膜結(jié)構(gòu)，尤其適用于具有一定熱膨脹系數(shù)的軟質(zhì)材料，如：高分子，復(fù)合材料、生命科學(xué)等 |
各種有機(jī)、無(wú)機(jī)、半導(dǎo)體、絕緣體、納米材料、生命科學(xué)等 |
一、s-SNOM散射式近場(chǎng)光學(xué)顯微鏡
散射式近場(chǎng)光學(xué)顯微鏡（s-SNOM）是一種先進(jìn)的近場(chǎng)光學(xué)技術(shù)，使用金屬鍍層AFM探針代替?zhèn)鹘y(tǒng)光纖探針來(lái)增強(qiáng)和散射樣品納米區(qū)域內(nèi)的光輻射，從而獲得更高的空間分辨率。由于s-SNOM采用AFM針尖作為散射源，近場(chǎng)光學(xué)的分辨率僅由AFM針尖的曲率半徑?jīng)Q定，與入射光源的波長(zhǎng)無(wú)關(guān)，s-SNOM的空間分辨率可達(dá)20nm（最佳可達(dá)10nm）。s-SNOM廣泛適用于無(wú)機(jī)物和有機(jī)物，尤其是具有高反射率，高介電常數(shù)和強(qiáng)光學(xué)共振的材料。
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10nm空間分辨率近場(chǎng)成像和光譜
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獨(dú)有快速成像和采譜技術(shù)，10倍于傳統(tǒng)spatio-spectral imaging
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專利背景壓制技術(shù)和高效光學(xué)信號(hào)收集技術(shù)，確保高信噪比
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預(yù)先校準(zhǔn)光路，操作極其簡(jiǎn)便
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模塊化設(shè)計(jì)，可拓展性強(qiáng)
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等離激元的高分辨率成像和分析
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廣泛適用于各種無(wú)機(jī)物和有機(jī)物
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二、AFM-IR納米紅外光譜
AFM-IR技術(shù)是美國(guó)Anasys儀器公司研發(fā)的一款基于原子力顯微鏡（AFM）的材料表征技術(shù)，也是市面上唯一可以直接探測(cè)納米尺寸紅外吸收光譜的先進(jìn)技術(shù)。AFM-IR采用功能強(qiáng)大的光熱誘導(dǎo)共振技術(shù)（PTIR），使紅外光譜的空間分辨率突破了光學(xué)衍射極限，提高至100nm以下，幫助研究人員更全面地了解納米尺度下樣品表面微小區(qū)域的化學(xué)信息。由于其實(shí)現(xiàn)了超高空間分辨率的紅外光譜采集，該技術(shù)曾榮獲2010年度美國(guó)R&D100大獎(jiǎng)。
由于傳統(tǒng)的紅外光譜技術(shù)需要采集紅外光透過(guò)樣品，或在樣品表面反射的光信號(hào)，因此在檢測(cè)微小區(qū)域時(shí)必然受到光學(xué)衍射極限的限制，例如傅立葉紅外光譜（FTIR）的空間分辨率只有10～30 μm，全反射衰減紅外光譜（ATR-IR）的空間分辨率只有3～5 μm，難以滿足納米尺度下的檢測(cè)與表征需要。
美國(guó)Anasys儀器公司的第二代納米紅外光譜儀創(chuàng)造性地使用AFM探針針尖來(lái)檢測(cè)樣品的紅外吸收信號(hào)，從而實(shí)現(xiàn)了空間分辨率低于光學(xué)衍射極限的紅外光譜分析。
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簡(jiǎn)化制樣過(guò)程，操作便捷
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納米級(jí)空間分辨率（<100nm）的光譜分析
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高清晰紅外吸收成像
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快速光譜測(cè)試，每條譜線采集時(shí)間~1min
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準(zhǔn)確可解析的紅外光譜，可以使用商業(yè)的IR數(shù)據(jù)庫(kù)進(jìn)行化學(xué)鑒定
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超高垂直靈敏度，可以進(jìn)行超薄薄膜和單層膜的光譜測(cè)試
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多功能、互補(bǔ)的測(cè)試，可以獲得納米尺寸度下表面形貌、機(jī)械性能、熱性和化學(xué)信息之間的相關(guān)性
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