PNI Nano-R2™ AFM 原子力顯微鏡
產品名稱： PNI Nano-R2™ AFM 原子力顯微鏡
英文名稱：
產品編號： Nano-R2™
產品價格： 0
產品產地： 美國
品牌商標： PNI
更新時間： null
使用范圍： null
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技術參數
平板式探針掃描器
X-Y掃描：探針掃描( Tip Scan)
范圍：>80um
線性：<1%
Z-Scan:
范圍：>8um
分辨率：<0.1nm
彩色視頻顯微鏡
放大倍數（19”監測器）：2000
自動放大/聚焦：4
視野：140um*190um
分辨率：1.5um
自動X-Y臺：
范圍：25.4 x 25.4 mm
步長：<3um
回轉速率：2.5mm/sec
掃描模式：
—接觸模式
—側力模式
—振動模式
—非接觸模式
—原料感模式
—力/距離模式
選配模式:
-電學模式(EFM/Kevin Probe) :非抬起模式, 采用獨立的鎖相放大器探測
-導電模式(SHARK):電流測量范圍: fA-mA
-磁力模式
-摩擦力模式
-納米刻蝕 Dip-Pen Nanolithography
-探針加熱模式( SThM, 探針溫度最高可達700攝氏度)
-全新納米顆粒粒徑分析軟件
-恒溫恒濕環境控制箱
—脈沖力模式 (Pulse Force Mode): 此為PNI公司獨家開發出來, 針對軟物質與黏彈性之測量
主要特點
* 閉環式掃描器, 定位精準, 誤差小于1nm
* 具有兩種掃描器可選用, 第一種是Light-Level掃描器, 第二種是Crystal Force 掃描器
* Crystal Force掃描器為太平洋納米科技公司的專利, 具有不須校正激光光路, 快速掃描與操作容易等優點. 對于公用實驗室與需要量測大量樣品的客戶, Crystal Force掃描器是最佳選擇
* 可配置環境控制箱, 可控制環境的溫度, 濕度與通氣氛等強大功能
* 可選配電學模式, 導電模式, 磁力模式, 摩擦力模式, 納米刻蝕 Dip-Pen Nanolithography, 探針加熱模式(探針溫度最高可達700攝氏度), 加熱樣品臺, 液體池.
* Nano-Rp是美國太平洋納米科技公司專門為分析納米顆粒粒徑分析的原子力顯微鏡, 包括:
全新NanoRule+顆粒粒徑分析軟件, 能夠直接分析納米等級的顆粒并繪制出 二維或三維納米顆粒的圖像
Nanoflat Substrates可以將納米顆粒沉淀并固定在基底.
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