UV757紫外可見分光光度計
產品名稱: UV757紫外可見分光光度計
英文名稱:
產品編號: UV757
產品價格: 0
產品產地: 上海
品牌商標: 精科
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?UV757紫外可見分光光度計

【技術參數】:
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型號 |
UV757 |
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波長重復性 |
≤?0.2nm |
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光譜帶寬 |
2nm |
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波長大允許誤差 |
±?0.5nm |
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波長范圍 |
200nm~1000nm |
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接收元件 |
光電池 |
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透射比大允許誤差 |
±0.5%(T) |
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透射比重復性 |
≤0.2%(T) |
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穩定性 |
≤?0.004A/30min |
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噪聲 |
噪聲≤0.5%(T)?0%噪聲≤0.2%(T) |
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透射比測量范圍 |
0.0%(T)~200.0%?(T) |
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吸光度測量范圍 |
-0.301(A)~4.000(A) |
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光源 |
鎢鹵素燈12V20W(進口)DD2.5氘燈(進口) |
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雜散光 |
≤0.3%(T)(在220nm以Nal測定和340nm處以NaNO2測定) |
【主機功能】:采用微機測量系統,T-A轉換,自動調整0%(T)和調整(T),具有GOTOλ,自動8聯樣品架,自動扣除比色皿誤差,濃度多點標定,斜率和截距設置等功能,具有RS232接口和并行打印口(打印機專用,另行選配)。
【聯機功能】:
通過RS-232串行接口,可利用上層軟件做波長掃描,時間掃描,濃度回歸方程(1次,2次,3次?),多波長測試,并大大擴展測試功能(除主機功能外)提供數據向Excel?傳送方式,便于用戶的后期處理。
基于Windows開發的UVCONTROL控制軟件,可對主機進行面控制。包括數據采集(單點測量,光譜掃描定量測定,時間掃描)各種數據處理。
標準化、峰谷檢測、面積計算。
圖譜的放大、縮小、平滑、導樹、四則運算?、1~4?次導樹,?T~A轉換單波長、多波長定量測定。
測試報告可以以標準文件或者Excel輸出。
掃描圖譜、工作曲線和測量結果可海量存儲,方便您的辦公。
K系數法、一點工作曲線法,可進行次函數擬合定量分析中異常點剔除。
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