雙光束紫外分光光度計
產品名稱: 雙光束紫外分光光度計
英文名稱:
產品編號: UV762PC
產品價格: 0
產品產地: 上海
品牌商標: 佑科
更新時間: null
使用范圍: null
北京瑞爾欣德科技有限公司
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功能特點:
- 關鍵元件采用進口元件,全新獨特的光學系統設計,使儀器的主機具有優良的光學性能和測光性能,雜散光低,測光精確度和穩定可靠性高。
- 真正的雙光束測光系統,配合先進的電路測控系統,使儀器具有較高的可靠性和極低的噪聲。
- 獨特的氘燈和鎢燈安裝,光源自動切換及自動尋找最佳位置的設計和工作方式,使用戶操作儀器和維修替換光源更為方便、正確和安全.
- 采用大屏幕中文窗口(LED)液晶屏顯示,具有良好的人機對話界面.
- 優良的軟件設計和編制,使儀器有較強光譜數據處理功能:自動掃描測量光譜,??多波長( 1-3λ)?測定、動力學測定、1-3次曲線擬合、1-4階導數光譜、存取顯示打印光譜圖和分析數據。
- 基于Windows?平臺開發的強大軟件,界面友好,功能強大,方便您的存儲輸出,方便辦公,節省費用。
性能指標:
- 波長范圍:190nm~1100nm
- 光譜帶寬:2nm
- 波長準確度:≤±0.3nm(開機自動校正)
- 波長重復性:≤0.2nm
- 透射比準確度:±0.3%(T)
- 透射比重復性:0.2%(T)
- 透射比測量范圍:0~200%T
- 吸光度測量范圍:-0.301~3.000A
- 雜光:≤0.15%(在220nm處,以NAI測定)
- 漂移:≤0.004A/H (500nm處)
- 噪聲:100%線噪聲≤0.15%T;0%線噪聲≤0.1%T
- 掃描速度:快? 中? 慢
