納米粒度和ZETA電位及分子量分析儀
產(chǎn)品名稱： 納米粒度和ZETA電位及分子量分析儀
英文名稱：
產(chǎn)品編號： Zetasizer Nano ZS
產(chǎn)品價格： 0
產(chǎn)品產(chǎn)地： 英國
品牌商標： 馬爾文
更新時間： null
使用范圍： null
天津布蘭頓科技有限公司
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儀器簡介：
新一代Zetasizer Nano ZS可以為膠體和聚合物化學專家提供綜合測量三項最重要參數(shù)的能力，即粒度、zeta 電位和分子量。這些系統(tǒng)中內(nèi)置了新技術(shù)，提供無比的靈敏性和多功能性。
粒度 - NIBS 技術(shù)可以對粒徑范圍0.3 納米至 10 微米的顆粒和分子進行測量。
Zeta 電位 - M3-PALS 技術(shù)能夠?qū)λ稚⒑头撬稚Ⅲw系中的 zeta 電位進行精確的測量。
分子量 - 雪崩光電二極管檢測器和光纖檢測光學裝置提供測量絕對分子量所需的靈敏度和穩(wěn)定性。?
Zetasizer Nano ZS中,可根據(jù)實際應(yīng)用選擇Nano ZS, Nano ZS90, Nano S, Nano Z,Nano S90等不同型號
Zetasizer Nano ZS 是 Malvern Zetasizer Nano ZS中的佼佼者，能夠測量所有三項參數(shù)，而且性能絲毫不減。
Nano ZS、Z 及 ZS90 都可以使用獨特的一次性 zeta 電位樣品池，避免樣品之間的交叉污染。
所有系統(tǒng)均可與 MPT-2 自動滴定儀連接使用，實現(xiàn)趨勢測量和樣品制備的自動化。?
技術(shù)參數(shù)：
新一代Zetasizer Nano ZS納米粒度和Zeta電位及分子量分析儀?
持續(xù)革新與優(yōu)化 樹立納米分析新標桿
-融合多項專利技術(shù) 挑戰(zhàn)顆粒表征極限?
-粒度范圍極寬:0.3--?10 μm
-濃度范圍廣: 0.1ppm—40%(w/v)
-測量絕對分子量
-高分辨率高靈敏度Zeta電位測量?
-最新專利zeta電位樣品池具有所需樣品量低至150 μl 和檢測高濃度樣品最高至40%(依賴于樣品)的極限能力
多項專利技術(shù)
-馬爾文專利NIBS非侵入背側(cè)光散射技術(shù)使儀器具有最高靈敏性
-馬爾文專利的新一代PALS+M3技術(shù),將最優(yōu)的硬件與軟件技術(shù)相結(jié)合,有效檢測散射光的相位變化
-馬爾文專利的毛細管樣品池電極組件,真正避免交叉污染
強大多功能系統(tǒng)
-世界公認最優(yōu)的APD檢測器,靈敏度無出其右
-特制高性能He-Ne激光器,提供更高的穩(wěn)定性
-標準配置研究級高速數(shù)字相關(guān)器
-175度和12.8度相結(jié)合的雙角度測量模式,洞悉體系中的締合物含量
新一代Zetasizer Nano ZS可以為膠體和聚合物化學專家提供綜合測量三項最重要參數(shù)的能力，即粒度、zeta 電位和分子量。這些系統(tǒng)中內(nèi)置了新技術(shù)，提供無比的靈敏性和多功能性。
粒度 - NIBS 技術(shù)可以對粒徑范圍0.3 納米至 10 微米的顆粒和分子進行測量。
Zeta 電位 - M3-PALS 技術(shù)能夠?qū)λ稚⒑头撬稚Ⅲw系中的 zeta 電位進行精確的測量。
分子量 - 雪崩光電二極管檢測器和光纖檢測光學裝置提供測量絕對分子量所需的靈敏度和穩(wěn)定性。?
Zetasizer Nano ZS中,可根據(jù)實際應(yīng)用選擇Nano ZS, Nano ZS90, Nano S, Nano Z,Nano S90等不同型號
Zetasizer Nano ZS 是 Malvern Zetasizer Nano ZS中的佼佼者，能夠測量所有三項參數(shù)，而且性能絲毫不減。
Nano ZS、Z 及 ZS90 都可以使用獨特的一次性 zeta 電位樣品池，避免樣品之間的交叉污染。
所有系統(tǒng)均可與 MPT-2 自動滴定儀連接使用，實現(xiàn)趨勢測量和樣品制備的自動化。?
技術(shù)參數(shù)：
粒徑測量
-最大粒徑范圍: 0.3 nm - 10 μm *
-濃度范圍: 0.1ppm – 40% w/v *
-檢測角度:?175o 和 12.8o
-最小樣品量: 12 μl?
Zeta電位測量?
-Zeta電位范圍: 無實際限制?
-電泳遷移率: 0 – 無實際上限
-最大樣品電導(dǎo)率: 200mS/cm
-最大樣品濃度: 40% w/v
-最小樣品量: 150 μl?
-粒徑范圍: 3.8nm - 100 μm *
分子量測量
分子量范圍 342 - 2 ×107 Da * (動態(tài)光散射)
???????????980 - 2 ×107 Da * (靜態(tài)光散射)
最小樣品量 12 μl，* 取決于樣品
新一代Zetasizer Nano ZS納米粒度和Zeta電位及分子量分析儀?
持續(xù)革新與優(yōu)化 樹立納米分析新標桿
-融合多項專利技術(shù) 挑戰(zhàn)顆粒表征極限?
-粒度范圍極寬:0.3--?10 μm
-濃度范圍廣: 0.1ppm—40%(w/v)
-測量絕對分子量
-高分辨率高靈敏度Zeta電位測量?
-最新專利zeta電位樣品池具有所需樣品量低至150 μl 和檢測高濃度樣品最高至40%(依賴于樣品)的極限能力
多項專利技術(shù)
-馬爾文專利NIBS非侵入背側(cè)光散射技術(shù)使儀器具有最高靈敏性
-馬爾文專利的新一代PALS+M3技術(shù),將最優(yōu)的硬件與軟件技術(shù)相結(jié)合,有效檢測散射光的相位變化
-馬爾文專利的毛細管樣品池電極組件,真正避免交叉污染
強大多功能系統(tǒng)
-世界公認最優(yōu)的APD檢測器,靈敏度無出其右
-特制高性能He-Ne激光器,提供更高的穩(wěn)定性
-標準配置研究級高速數(shù)字相關(guān)器
-175度和12.8度相結(jié)合的雙角度測量模式,洞悉體系中的締合物含量