XRF熒光光譜儀薄膜標準樣品
產品名稱： XRF熒光光譜儀薄膜標準樣品
英文名稱： XRF熒光光譜儀薄膜標準樣品
產品編號： B47
產品價格： 3000
產品產地： null
品牌商標： null
更新時間： 2024-10-22T15:49:05
使用范圍： null
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XRF熒光光譜儀薄膜標準樣品
B47型單元素薄膜標準樣品3000
奧富森提供的XRF薄膜標準樣品綜合了多種高真空鍍膜技術進行制備,能夠制備單元素、多元素、化合物以及土壤混合物等類型的薄膜標準樣品。具有膜層厚度控制精確，厚度均勻，性能穩定等優點，元素純度可達99.9%以上；同時綜合ICP和XRF等檢測技術，可精確標定薄膜標樣的負載量。并提供具有朔源性的第三方檢測報告。
《HJ 830-2017 環境空氣顆粒物中無機元素的測定波長色散-X射線熒光光譜法》以及《HJ 829-2017 環境空氣顆粒物中無機元素的測定能量色散-X射線熒光光譜法》均要求使用薄膜標樣建立儀器的工作曲線。
XRF薄膜標準樣品分SL(0.5-2μg/cm2)、VL(3-5μg/cm2)、L(15-25μg/cm2)、R(40-60μg/cm2)、H(80-120μg/cm2)五個負載量系列，其他負載量的產品可根據客戶實際需求定制。
在實際的空氣監測應用中，根據《HJ830-2017環境空氣顆粒物中無機元素的測定波長色散-X射線熒光光譜法》和《HJ829-2017環境空氣顆粒物中無機元素的測定能量色散-X射線熒光光譜法》所測得的數據通常偏低；而傳統薄膜標準樣品的濃度跨度較大，負載量偏高，不利于標定曲線的建立以及低濃度無機元素的精確測量。
為解決這一問題，奧富森公司針對《HJ830-2017》、《HJ829-2017》和最新《HJ1329-2023》推出了空氣監測專用系列薄膜標準樣品(AtmosphereMonitoringSeries)，分為S(0.4-1.6μg/cm2)、SM(2-4μg/cm2)、M(8-12μg/cm2)、LR(17-23μg/cm2) 、R(40-60μg/cm2)五個負載量。這一系列樣品經過特別優化，其負載量較低，更加符合空氣監測的實際應用需求。
可供應的XRF單元素薄膜標準樣品的元素如下：
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老款：SL(0.5-2μg/cm2)、VL(3-5μg/cm2)、L(15-25μg/cm2)、R(40-60μg/cm2)、H(80-120μg/cm2), 新款：S(0.4-1.6μg/cm2)、SM(2-4μg/cm2)、M(8-12μg/cm2)、LR(17-23μg/cm2) 、R(40-60μg/cm2) |
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Na (NaCl) |
Ge |
Zn (ZnTe) |
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Mg (MgF2) |
Rb (RbI) |
As (GaAs) |
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Al |
Y (YF3) |
Se |
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Si (SiO2) |
Zr (ZrF4) |
Sr (SrF2) |
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P (GaP) |
Nb (NbF5) |
Br (CsBr) |
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S (CuSx) |
Mo (MoO3) |
Cd (CdSe) |
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Cl (NaCl) |
In |
Ba (BaF2) |
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K (KCl) |
La (LaF3) |
Pb |
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Ca (CaF2) |
Ce (CeF3) |
Sn |
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Sc (ScF3) |
Pr(PrF3) |
Tm (TmF3) |
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Ti |
Nd (NdF3) |
Yb (YbF3) |
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V |
Sm(SmF3) |
Lu (LuF3) |
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Cr |
Eu (EuF3) |
W (WO3) |
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Mn |
Gd (GdF3) |
Hg (HgCdTe) |
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Fe |
Tb (TbF3) |
Bi |
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Co |
Dy (DyF3) |
Ag |
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Ni |
Ho (HoF3) |
Sb |
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Cu |
Er (ErF3) |
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XRF薄膜標準樣品的安裝形式：
1、 安裝環尺寸（厚度為1.5mm的亞克力玻璃）
圓形：
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代碼 |
外徑(mm) |
內徑(mm) |
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25 |
25 |
17 |
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32 |
32 |
25 |
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36 |
36 |
29 |
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47 |
47 |
39 |
推薦47號尺寸。
方形：
50x50mm方形尺寸，內置ø32mm的圓環，代碼50。
2、 支撐膜材料
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代碼 |
支撐膜材料 |
備注 |
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N |
Nuclepore® polycarbonate |
氣溶膠核孔膜 |
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M6.3 |
6.3μm厚度麥拉膜(Mylar) |
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M3.5 |
3.5μm厚度麥拉膜(Mylar) |
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推薦N型材料。
3、
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B |
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A |
鍍膜方式：
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代碼 |
鍍膜位置排列 |
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A |
安裝環-元素膜-支撐膜 |
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B |
元素膜-支撐膜-安裝環 |
推薦B模式。
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