梅特勒分析天平XP2U
產品名稱： 梅特勒分析天平XP2U
英文名稱： METTLER TOLEDO XP2U
產品編號： 梅特勒分析天平XP2U
產品價格： 0
產品產地： 瑞士
品牌商標： METTLER TOLEDO 梅特勒
更新時間： null
使用范圍： null
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梅特勒-托利多XP2U是一臺創新的超微量天平：提供卓越的稱量性能，用戶友好界面和質量標準。XP2U超微量天平具有21,000,000的至高分辯率。SmartScreen彩色觸摸屏、可設置的顯示界面、智能用戶向導、以及無需用手接觸的SmartSens紅外感應器控制的防風罩，使這種高精度天平比以往更快、更容易、和更高效。
梅特勒-托利多XP6微量天平和XP2U／XP6U超微量天平專為提高稱量效率和可靠性而設計，同時確保網絡兼容性。
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標準配置 |
內置QA特點 | ||||||||||||||||||
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| 極限值 | XP2U |
| 最大稱量值 | 2.1 g |
| 可讀性 | 0.0001 mg |
| 重復性(sd) - 加載處 | 0.00025 mg |
| - 低加載（加載處） | 0.0002 mg (0.2 g) |
| 線性誤差 | 0.001 mg |
| 四角誤差（加載處）1) | 0.0025 mg (1 g) |
| 靈敏度漂移 | 1.5 x 10-5 |
| 靈敏度溫度漂移 2) | 0.0001 /°C |
| 靈敏度穩定性 3) | 0.0001 /a |
| 典型值?4) | |
| 典型重復性（sd） | 0.00015 mg+2.5 x (10–8)· R_gr? |
| 典型微分非線性（sd） | √8x(10-14) · g · R_nt |
| 典型微分四角誤差（sd） | 8 x (10–7) . R_nt |
| 典型靈敏度偏移（sd）2) | 3x(10-6)· R_nt |
| 典型最小稱量值*（符合USP） | 0.45 mg+7.5 x (10–5) · R_gr? |
| 典型最小稱量值* (@ U=1 , 2 sd) | 0.03 mg+5 x (10–6) · R_gr? |
| 典型穩定時間 | < 10 s |
1) 根據OIML R76
2) 在10到30°C的溫度范圍內
3) 第一次安裝，使用proFACT校準，靈敏度穩定性
4) 能用于估計不確定度? sd=標準偏差????? Rgr=毛重???? Rnt=凈重（樣品質量）?? a=年
*? 重復性和最小稱量值可以通過以下措施得以改進：- 選擇適當的稱量參數設置，- 選擇合適的天平放置位置，- 使用較小的去皮容器。