膜厚測定裝置
產品名稱： 膜厚測定裝置
英文名稱：
產品編號： UTS-2000
產品價格： 0
產品產地： 日本分光（株）/JASCO
品牌商標： JASCO日本分光
更新時間： null
使用范圍： null
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▼概要 自動絕對反射率測量裝置一邊變化照到樣品的入射角，一邊測量反射率以及透過。用于太陽能電池零件，半導體，薄膜，光學元件等各種固體樣品的分光特性或者膜厚等的測量。入射角通過旋轉樣品臺設定，受光角通過滑動積分球控制。另外，能用非同步方式分別設定入射角和受光角。而且，根據任意設定P偏光和S偏光角度，能研究樣品的偏光特性。 可選擇用在緊湊的中型機種V-600系列紫外可見近紅外分光光度計上，也可以選擇用在適合高分辨率，高吸光度測量的V-7000系列紫外可見近紅外分光光度計上。 ◆規格 ▼ARMV-734/ARMN-735 自動絕對反射率測量組件（V-600用）
※ARMV-734用于V-650,660、ARMN-735用于V-670。
? ▼VAR-7010/7020/7030 自動絕對反射率測量組件（V-7000用）
※VAR-7010用于V-7100、VAR-7020用于V-7200、?VAR-7030用于V-7300。
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