756mc/756crt型紫外可見分光光度計
產品名稱： 756mc/756crt型紫外可見分光光度計
英文名稱：
產品編號： 756MC/756CRT型
產品價格： 0
產品產地： 上海
品牌商標： 上分
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上海達平儀器有限公司
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| 應用范圍 | ? |
| 可廣泛應用于藥品檢驗、臨床檢驗、生物化學、有機化學、三廢檢測、礦物分析和動力學測試。該系列是高性能、多功能的微機型儀器。具有高靈敏度、高穩定性、高可靠性，是現代分析實驗室必備的常規儀器之一,也是高等院校理想的教學工具。 | ? |
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| 產品簡介 | |
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共同特點: ●自動調整0%和100%，可直接消除比色皿配對誤差。 ●單光束結構，使用高性能”閃耀全息光柵”。 ●具有全波段掃描、分波段掃描、動力學時間掃描、濃度直讀、線性回歸以及GOTOλ等各種高級功能。 ●采用熱敏打印機，進行數據打印．光譜重復掃描，定波長時間掃描 ●具有RS232接口,可外接計算機 ●有斷電保護功能,可記憶掃描圖譜,回歸方程等,實現了開機直接進入測試狀態 756CRT特點(除共同特點外) ●IBMPC兼容機實時控制．軟件基于windows98平臺 ●光譜處理功能：標尺轉換，數據追縱，峰、谷捕捉，τ-A轉換，Log(ABS)顯示，光譜平滑 ●多階導數光譜，圖譜重疊 ●文件功能：分析條件、光譜圖、定量數據 性能指標: ●波長范圍：200nm-800nm ●波長設定：195.0nm-850.0nm按0.1nm間隔任意設定 ●波長顯示：四位LED(756MC) ●波長準確度：≤±1nm ●波長重復性：≤0.5nm ●透射比準確度：±0.5％(τ)(NBS930D) ●透射比重復性：≤0.3％(τ) ●光譜帶寬：2nm ●雜光：0.5％(τ)(在220nm處以Nal測定) ●穩定性：暗電流漂移：≤0.2%(τ)/5min；亮電流漂移：≤0.5%(τ)/5min | |
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