原理：

? 根據分子或原子的光譜特征來解析研究物質，分光器中狹縫透過物鏡與樣品的對應位置構成了共聚焦光路，分光儀將聚焦在狹縫上各點的圖像信號展開成光譜，投射到面陣傳感器獲取對應數據，電腦工作站將狹縫上每一點的光盤數據分別記錄在數據庫中，并且用專門樣品，分別記錄每一個位置的光譜圖像數據，工作站將建立一個豐富的多維數據庫，通過專門軟件處理，系統可以給出諸如：平面多光譜解混，平面光譜成份分布圖，時間光譜分布等高光譜分析結果。應用領域涉及熒光研究、納米微粒檢測、組織病理學研究等等。

主要性能參數：

物理尺寸?????????????230*70*60mm

支持相機?????????????Q-Imageing制造的大部數字相機

光譜響應范圍???????? 標準360—920nm（取決于數字相機性能）

光譜分辨率???????????1nm FWHM at 436nm標準G線附近

狹縫寬度及長度??? ?? 25微米、5毫米

空間分辨率?????????? 約0.6微米（用25微米和40X物鏡在樣品面上檢測）

電腦控制樣品臺?????? Prior控制臺（步進10nm）

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熒光研究及應用(Fluorescence research and application)

(1)365—920nm全范圍同時而獨立的數據采集；(2)帶有自動數據庫支持的光譜解混；(3)用超過300個波長點的精細光譜曲線表達諸如CFP/YFP FRET等光譜關聯實驗；(4)纖維樣品的專項光譜學分析管理(吸收、反射率、透射率等)；(5)對感興趣區域或全視場的光譜柱狀圖式統計學數據分析；(6)熒光和普通光快捷轉換；(7)可同時分解多達15條交織在一起的熒光譜線；(8)FRET和多標記熒光簇團的圖像描述；(9對應光譜的熒光平面分布

納米微粒檢測(Nanoparticle Analysis)

位置顯示：? 不同光譜特征的納米物質被分別用不同顏色精確的標注在灰度圖像對應點上，形成光譜地形圖(spectral topography).

監????測：?分析和描述特異視場中的獨立納米微粒、微團、集群特性。

金屬確認：??用光譜特征表達任意材料中的特異金屬。

膜 研 究：? 用光譜表達尺寸、形狀和接近度，進而研究表面共振特性(SPR).

特????點：?活細胞或動植物樣品中內存或加注的單個乃至數千個納米微粒、納米環、納米棒的監測，做到無損傷、非真空、大視場、低成本、可兼顧掃描電鏡(SEM和透射電鏡(TEM)的許多操作。

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