KSV NIMA LB 膜分析儀-物性測試儀器-儀器設備-生物在線
瑞典百歐林科技有限公司上海代表處
KSV NIMA LB 膜分析儀

KSV NIMA LB 膜分析儀

商家詢價

產品名稱: KSV NIMA LB 膜分析儀

英文名稱: KSV NIMA LB Trough

產品編號: 小型、中型、大型

產品價格: 0

產品產地: 芬蘭

品牌商標: Biolin

更新時間: null

使用范圍: null

瑞典百歐林科技有限公司上海代表處
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1. 產品簡介

?KSV NIMA為瑞典百歐林科技有限公司旗下的子品牌之一,主要經營方向為單分子層薄膜的構建與表征工具。LBLangmuir-Blodgett)膜分析儀為KSV NIMA自主研發的一款單分子層膜的制備和表征設備,是LB膜的沉積領域應用最廣泛的一款全球領先設備。

LB膜分析儀配備了鍍膜井和鍍膜頭,在所需的堆積密度下,鍍膜頭可以用來將Langmuir膜轉移到固體基材上,鍍膜井可以在Langmuir膜下為固體樣品提供空間。Langmuir膜轉移到樣品上,密度,厚度及均勻性等性質將會保留,從而實現了制備不同組成的多分子層結構的可能。與其他有機薄膜沉積技術相比,LB沉積方法受功能性分子的分子結構限制影響很小,這意味著LB技術是唯一能夠進行自下向上的一種組裝方法。

常規的LB膜分析儀包含三種型號的槽體:小型、中型、大型。

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2. 工作原理

位于氣-液或液-液界面處不可溶的功能性分子、納米顆粒、納米線或微粒所形成的單分子層可定義為Langmuir膜。這些分子能夠在界面處自由移動,具有較強的流動性,易于控制其堆積密度,研究單分子層的行為。將材料沉積在淺池(稱頂槽)中的水亞相上,可以得到Langmuir膜。在滑障的作用下,單分子層可以被壓縮。表面壓力即堆積密度可以通過Langmuir膜分析儀的壓力傳感器進行控制。

在進行典型的等溫壓縮測試時,單分子層先從二維的氣相(G)轉變到液相(L)最后形成有序的固相(S)。在氣相中,分子間的相互作用力比較弱;當表面積減小,分子間的堆積更為緊密,并開始發生相互作用;在固相時,分子的堆積是有序的,導致表面壓迅速增大。當表面壓達到最大值即塌縮點后,單分子層的堆積不再可控。

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1 單分子層膜狀態受表面壓力增加的影響

LB膜沉積過程是將樣品從單分子層中垂直拉出(圖2a),通過反復沉積技術可制備多層LB膜(圖2b),親水性及疏水性樣品均可在液相或氣相中沉積為單分子層。

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2 (a). LB沉積過程示意圖;(b). 多層單分子膜的制備

3. 技術參數

3.1 小型LB膜分析儀(KN2001

  1. 槽體材質:固體燒結,無孔PTFE材質,快速限位孔固定,可拆卸清洗或更換為多種其他功能性槽體,含雙側導流槽,內置水浴系統接口
  2. 框體特性:33 mm槽體高度調節,含安全限位開關,含攪拌、pH測量、樣品注射輔助系統等接口
  3. 系統設計:模塊化設計,可獨立進行表面壓測量和鍍膜實驗,可原位進行表面紅外、表面電勢、布魯斯特角圖像、界面剪切等測試
  4. 槽體表面積: 98 cm2
  5. 槽體內部尺寸:195 x 50 x 4 mm(長 x x高)
  6. 滑障速度: 0.1-270 mm/min
  7. 滑障速度精度: 0.1? mm/min
  8. 測量范圍:0-150 mN/m
  9. 天平最大負荷: 1 g,可三維
  10. 天平定位調節: 360° x 110mm x 45 mmXYZ
  11. 傳感精度: 4 μN/m
  12. 表面壓測試元件: 標準Wilhelmy白金板,W19.62 x H 10mm,符合EN 14370:2004國際標準。其他選項:Wilhelmy白金板(W10 x H10 mm)、液/Wilhelmy鉑金板(W19.62 x H7 mm)、Wilhelmy紙板、白金棒
  13. Langmuir測試槽亞相容積:39 ml
  14. Langmuir-Blodgett測試槽亞相容積:57 ml
  15. 鍍膜井尺寸:20 x30 x 30 mm(長 x x高)
  16. 最大基材尺寸:3 x 26 x26 mm1英寸
  17. 最大鍍膜沖程: 80 mm
  18. 鍍膜速度:0.1 108 mm/min
  19. 電源: 100...240 VAC
  20. 頻率: 50...60 Hz

3.2 中型LB膜分析儀(KN2002

  1. 槽體材質:固體燒結,無孔PTFE材質,快速限位孔固定,可拆卸清洗或更換為多種其他功能性槽體,含雙側導流槽,內置水浴系統接口
  2. 框體特性:33 mm槽體高度調節,天平可XYZ三維定位調節,含安全限位開關,含攪拌、pH測量、樣品注射輔助系統等接口
  3. 系統設計:模塊化設計,可獨立進行表面壓測量和鍍膜實驗,可原位進行表面紅外、表面電勢、布魯斯特角圖像、界面剪切等測試
  4. 槽體表面積: 273 cm2
  5. 槽體內部尺寸:364 x 75 x 4 mm(長 x x高)
  6. 滑障速度: 0.1-270 mm/min
  7. 滑障速度精度: 0.1? mm/min
  8. 測量范圍:0-150 mN/m
  9. 天平最大負荷: 1 g
  10. 天平定位調節 360° x 110mm x 45 mmXYZ
  11. 傳感精度: 4 μN/m
  12. 表面壓測試元件: 標準Wilhelmy白金板,W19.62 x H 10mm,符合EN 14370:2004國際標準。其他選項:Wilhelmy白金板(W10 x H10 mm)、液/Wilhelmy鉑金板(W19.62 x H7 mm)、Wilhelmy紙板、白金棒
  13. Langmuir測試槽亞相容積:109 ml
  14. Langmuir-Blodgett測試槽亞相容積:176 ml
  15. 鍍膜井尺寸20 x56 x 60 mm(長 x x高)
  16. 最大基材尺寸:3 x 52 x56 mm2英寸
  17. 最大鍍膜沖程: 80 mm
  18. 鍍膜速度:0.1 108 mm/min
  19. 電源: 100...240 VAC
  20. 頻率: 50...60 Hz

3.3 大型LB膜分析儀(KN2003

  1. 槽體材質:固體燒結,無孔PTFE材質,快速限位孔固定,可拆卸清洗或更換為多種其他功能性槽體,含雙側導流槽,內置水浴系統接口
  2. 框體特性:33 mm槽體高度調節,天平可XYZ三維定位調節,含安全限位開關,含攪拌、pH測量、樣品注射輔助系統等接口
  3. TUNEology 波長可調檢測卡盒-->