KSV NIMA Langmuir Scheafer膜分析儀-物性測(cè)試儀器-儀器設(shè)備-生物在線

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瑞典百歐林科技有限公司上海代表處
KSV NIMA Langmuir Scheafer膜分析儀

KSV NIMA Langmuir Scheafer膜分析儀

商家詢價(jià)

產(chǎn)品名稱: KSV NIMA Langmuir Scheafer膜分析儀

英文名稱: KSV NIMA Langmuir Scheafer trough

產(chǎn)品編號(hào): Alternate Langmuir-Scheafer

產(chǎn)品價(jià)格: 0

產(chǎn)品產(chǎn)地: 芬蘭

品牌商標(biāo): Biolin

更新時(shí)間: null

使用范圍: null

瑞典百歐林科技有限公司上海代表處
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?LS膜分析儀

1. 產(chǎn)品簡(jiǎn)介

? ?KSV NIMA為瑞典百歐林科技有限公司旗下的子品牌之一,主要經(jīng)營(yíng)方向?yàn)閱畏肿訉颖∧さ臉?gòu)建與表征工具。LSLangmuir-Schaefer)膜分析儀為KSV NIMA自主研發(fā)的一款單分子層膜的制備和表征設(shè)備,是LS膜的沉積領(lǐng)域應(yīng)用最廣泛的一款全球領(lǐng)先設(shè)備。

? ? ? LS膜分析儀基本組件與LB膜分析儀相同,但將原有垂直鍍膜頭更換為水平鍍膜頭組件,在所需的堆積密度下,鍍膜頭可以用來(lái)將Langmuir膜水平轉(zhuǎn)移到固體基材上,Langmuir膜的密度,厚度及均勻性等性質(zhì)將會(huì)保留,從而實(shí)現(xiàn)了制備不同組成的多分子層結(jié)構(gòu)的可能。

? ?常規(guī)的LS膜分析儀包含三種型號(hào)的槽體:小型、中型、大型。

2. 工作原理

? ?位于氣-液或液-液界面處不可溶的功能性分子、納米顆粒、納米線或微粒所形成的單分子層可定義為Langmuir膜。這些分子能夠在界面處自由移動(dòng),具有較強(qiáng)的流動(dòng)性,易于控制其堆積密度,研究單分子層的行為。將材料沉積在淺池(稱頂槽)中的水亞相上,可以得到Langmuir膜。在滑障的作用下,單分子層可以被壓縮。表面壓力即堆積密度可以通過(guò)Langmuir膜分析儀的壓力傳感器進(jìn)行控制。

? ?在進(jìn)行典型的等溫壓縮測(cè)試時(shí),單分子層先從二維的氣相(G)轉(zhuǎn)變到液相(L)最后形成有序的固相(S)。在氣相中,分子間的相互作用力比較弱;當(dāng)表面積減小,分子間的堆積更為緊密,并開(kāi)始發(fā)生相互作用;在固相時(shí),分子的堆積是有序的,導(dǎo)致表面壓迅速增大。當(dāng)表面壓達(dá)到最大值即塌縮點(diǎn)后,單分子層的堆積不再可控。

1 單分子層膜狀態(tài)受表面壓力增加的影響

LS膜沉積過(guò)程是將樣品從單分子層中水平拉出(圖2),通過(guò)反復(fù)沉積技術(shù)可制備多層LS膜,親水性及疏水性樣品均可在液相或氣相中沉積為單分子層。

2 LS沉積過(guò)程示意圖

3. 技術(shù)參數(shù)

3.1 小型LS膜分析儀(KN 2001

1.????? 槽體材質(zhì):固體燒結(jié),無(wú)孔PTFE材質(zhì),快速限位孔固定,可拆卸清洗或更換為多種其他功能性槽體,含雙側(cè)導(dǎo)流槽,內(nèi)置水浴系統(tǒng)接口

2.????? 框體特性:33 mm槽體高度調(diào)節(jié),含安全限位開(kāi)關(guān),含攪拌、pH測(cè)量、樣品注射輔助系統(tǒng)等接口

3.????? 系統(tǒng)設(shè)計(jì):模塊化設(shè)計(jì),可獨(dú)立進(jìn)行表面壓測(cè)量和鍍膜實(shí)驗(yàn),可原位進(jìn)行表面紅外、表面電勢(shì)、布魯斯特角圖像、界面剪切等測(cè)試

4.????? 槽體表面積: 98 cm2

5.????? 槽體內(nèi)部尺寸:195 x 50 x 4 mm(長(zhǎng) x x高)

6.????? 滑障速度: 0.1-270 mm/min

7.????? 滑障速度精度: 0.1? mm/min

8.????? 測(cè)量范圍:0-150 mN/m

9.????? 天平最大負(fù)荷: 1 g,可三維

10.? 天平定位調(diào)節(jié): 360° x 110mm x 45 mmXYZ

11.? 傳感精度: 4 μN(yùn)/m

12.? 表面壓測(cè)試元件: 標(biāo)準(zhǔn)Wilhelmy白金板,W19.62 x H 10mm,符合EN 14370:2004國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)。其他選項(xiàng):Wilhelmy白金板(W10 x H10 mm)、液/Wilhelmy鉑金板(W19.62 x H7 mm)、Wilhelmy紙板、白金棒

13.? Langmuir測(cè)試槽亞相容積:39 ml

14.? Langmuir-Blodgett測(cè)試槽亞相容積:57 ml

15.? 鍍膜井尺寸:20 x30 x 30 mm(長(zhǎng) x x高)

16.? 最大基材尺寸:3 x 26 x26 mm1英寸

17.? 最大鍍膜沖程: 80 mm

18.? 鍍膜速度:0.1 108 mm/min

19.? 電源: 100...240 VAC

20.? 頻率: 50...60 Hz

3.2 中型LS膜分析儀(KN 2002

1.????? 槽體材質(zhì):固體燒結(jié),無(wú)孔PTFE材質(zhì),快速限位孔固定,可拆卸清洗或更換為多種其他功能性槽體,含雙側(cè)導(dǎo)流槽,內(nèi)置水浴系統(tǒng)接口

2.????? 框體特性:TUNEology 波長(zhǎng)可調(diào)檢測(cè)卡盒-->