近接場(chǎng)光學(xué)顯微分光系統(tǒng)-光譜系統(tǒng)-儀器設(shè)備-生物在線

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近接場(chǎng)光學(xué)顯微分光系統(tǒng)

近接場(chǎng)光學(xué)顯微分光系統(tǒng)

商家詢價(jià)

產(chǎn)品名稱: 近接場(chǎng)光學(xué)顯微分光系統(tǒng)

英文名稱: NFS series

產(chǎn)品編號(hào): NFS series

產(chǎn)品價(jià)格: 0

產(chǎn)品產(chǎn)地: 日本分光(株)/JASCO

品牌商標(biāo): JASCO

更新時(shí)間: null

使用范圍: null

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概要

日本分光株式會(huì)社生產(chǎn)的可以分光測(cè)定的描型接近場(chǎng)光學(xué)NFS系列,世界一流。臺(tái)裝置能10-100nm左右的空分解力進(jìn)微分光測(cè)量。能在微小的領(lǐng)觀測(cè)譜強(qiáng)化以及波峰變換可更好的對(duì)物質(zhì)特性描述

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◆第30回井上春成賞 受賞


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◆特征

?世界第一臺(tái)一體化掃描型近接場(chǎng)光學(xué)分光顯微鏡
?數(shù)十~百nm高空間分辨率測(cè)量顯微分光
?使用日本分光制的探頭可準(zhǔn)確使用特定大小的近接場(chǎng)光
?可同時(shí)測(cè)量樣品表面微小的凹凸形狀。和原子力顯微鏡(AFM)類似的用法。
??illumination(透過)、collection、?illumination-collection測(cè)量方式

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◆近接場(chǎng)光學(xué)顯微分光裝置


光纖前端產(chǎn)生的近接場(chǎng)光和樣品表面相互作用產(chǎn)生漫反射光,檢測(cè)漫反射光

對(duì)于微小領(lǐng)域的表征方法有利用電子線的電子顯微鏡形態(tài)觀察、?X線微分析儀,掃描型探頭電鏡表面形狀觀察這些分析方法可以得到高空間分辨率的畫像、但是得不到樣品表面的化學(xué)信息。另外,雖然顯微FT/IR分光、顯微光激發(fā)光分光、微拉曼光等可以得到表面化學(xué)信息,但是因?yàn)榭?span style="line-height: 23px; font-family: 宋體; font-size: 13px;">間分辨率有限度、所得到的信息也停留在微米量級(jí)。原因是光的衍射是有限度的不能超過使用波長(zhǎng)范圍。

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◆新開發(fā)光纖制作技術(shù)


光纖前端以及開口部分以外為金屬套、防止漏光

NFS系列光纖前端約為數(shù)十~百nm開口的探頭用于近接場(chǎng)產(chǎn)生或者近接場(chǎng)光集光。日本分光的開口技術(shù)神奈川科學(xué)技術(shù)科學(xué)院(KAST)研究成果基礎(chǔ)上開發(fā)的特定尺寸的開口,再現(xiàn)性好開口的尺寸用電子顯微鏡高度的控制

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◆NFS series產(chǎn)品種類豐富

主要有以下種類。重點(diǎn)介紹近接場(chǎng)顯微紅外分光系統(tǒng)
別的型號(hào)詳細(xì)請(qǐng)咨詢

?室溫型/低溫型 近接場(chǎng)光照射裝置(NFS-220/320
?室溫型/低溫型近接場(chǎng)掃描裝置(NFS-210/310
?室溫型/低溫型 近接場(chǎng)蛍光/光激發(fā)光分光裝置(NFS-230/330
?近接場(chǎng)顯微鏡紅外分光裝置(NFS-220FT/320FT
?近接場(chǎng)顯微紅外分光裝置(NFIR-200/250
?近接場(chǎng)納米碳素管評(píng)價(jià)裝置NFS-230C/330C、特殊定制)
?近接場(chǎng)時(shí)間分解分光裝置(NFS-230TR/330TR、特殊定制)

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◆NFIR-200/250 近接場(chǎng)顯微紅外分光系統(tǒng)


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近接場(chǎng)顯微紅外分光裝置
外分光法代表的振動(dòng)分光法、不論有機(jī)?無機(jī)應(yīng)用于各種分析領(lǐng)域。但是,現(xiàn)有的紅外顯微分光系統(tǒng)間分辨率受光的衍射現(xiàn)象的影響,限度為10μm左右。近接場(chǎng)分光法、可以超過這個(gè)衍射限度、可見光區(qū)域應(yīng)用于從亞微細(xì)米到納米規(guī)模的光分析,紅外區(qū)域由于光纖探頭吸收的原因不能進(jìn)行分光分析紅外領(lǐng)域通過采用漫反射型近接場(chǎng)光學(xué)系統(tǒng)、實(shí)現(xiàn)了從紅外到中紅外領(lǐng)域的亞微細(xì)米空間分辨率的分光測(cè)量通過照射到探頭前端的紅外光產(chǎn)生紅外近接場(chǎng)光、檢測(cè)近接場(chǎng)光和樣品鳴漫反射結(jié)果信號(hào)測(cè)量紅外近接場(chǎng)光譜。空間分辨率不受紅外波長(zhǎng)影響、由探頭前端產(chǎn)生近接場(chǎng)光的實(shí)際尺寸決定、大約探頭前端徑大小。因此,紅外分廣發(fā)可用于亞微細(xì)米以下領(lǐng)域測(cè)量

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▼特征和系統(tǒng)略圖
?漫反射型近接場(chǎng)光學(xué)裝置可除去光纖探頭吸收的影響。
?環(huán)保配置。
?NFIR-250的FT部裝有大型測(cè)量用的樣品室,可對(duì)應(yīng)一般的紅外測(cè)量。

裝置的概略圖如右圖。


NFIR-200/250規(guī)格

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機(jī)種

NFIR-200/250

測(cè)量方式

雜散光測(cè)量方式、光學(xué)調(diào)整方式探頭位置調(diào)整方式

檢測(cè)器

設(shè)置數(shù)量:最大2
標(biāo)準(zhǔn)檢測(cè)器:液體氮?dú)?/span>冷卻MCT檢測(cè)
選項(xiàng)檢測(cè)器:液體氮?dú)?/span>冷卻InSb檢測(cè)器
切換方式:電動(dòng)

樣品臺(tái)范圍

×20×20μm、高16μm

傅里葉變換型分光系統(tǒng)

測(cè)量波長(zhǎng)范圍40001000 cm-1 (MCT使用時(shí)
?5000
2000 cm-1 (InSb使用時(shí))
分辨率400px-1
干渉計(jì):45°入射邁克爾遜干渉計(jì)
分速器Ge/KBr

微型樣品

NFIR-250

控制用PC

OSWindows XP、通信:16bit AD/DA讀取畫像:ビデオキャプチャボード

軟件

反饋信號(hào)顯示器及映射測(cè)量軟件
?3
次元表示軟件探頭觀察用CCD畫像表示軟件
映射解析軟件光譜解析軟件

尺寸?重量

W1000 x D900 x H1300 mm280kgNFIR-200含防振臺(tái)
?W1600 x D750 x H1300 mm
300kgNFIR-250含防振臺(tái)

電源

AC100V±10% 250VA(本體)、150VAFT)、100VAPC

其他必要的工具

防振臺(tái)用空氣源:氮?dú)饣蚩諝庠础?/span>0.30.8MPa