儀器簡介：
美國Microtrac公司的S3500系列激光粒度分析儀，原理上采用經典靜態光散射技術和全程米氏理論處理，利用現代模塊式設計理念，使用獲得專利的三激光光源技術，配備超大角度雙鏡頭檢測系統，以對數方式排列151個高靈敏度檢測單元，無需掃描，平行通道實時接受散射光信息，提供準確可靠的測量信息。多種分散方式可選，干法與濕法測量之間的轉換，系統自動識別，方便快捷。S3500系列儀器完全符合ISO?13320-1粒度分析－激光衍射方法的技術標準及21?CFR?PART?11?安全要求，并被榮幸地指定為NIST標準物質認證儀器。

技術參數：
測量范圍：90 - 13,200μm
測量技術：單色CCD圖像分析技術
重復性：誤差≤1.5%，分析精度：30通道
掃描速度：60循環/10秒
測量時間：1-9,999秒，用戶可選
直接干粉進樣分析，樣品可回收
實時圖像處理，操作直觀方便
報告形式：體積/數量粒度分布，等效圓形面積直徑，橢圓長短徑比，橢圓長/短軸長，圓度等


主要特點：
? ﹡ ?專利Tri-Laser激光系統, 完全消除了不同波長光源對顆粒散射光分布“連接點”的影響和
? ? ? ?多次米氏理論（Mie Theory）數學處理的誤差（米氏理論處理與波長有關）。
? ﹡ ?固定多元檢測器與三激光光源的靈巧配置，無需掃描，同步接受全量程散射光信號，保證分
? ? ? ?析結果的高重現性及全量程范圍的高分辨率。
? ﹡ ?首家引進“非球形”顆粒概念對米氏理論計算的校正因子，內置常用分析物質光學數據庫，
? ? ? ?提高顆粒粒度分布測試的準確性。
? ﹡ ?系統自動對光，內置輔助光源用于檢驗和校正檢測器的靈敏度。
? ﹡ ?多種樣品分散系統可供選擇，各種分散系統之間的轉換簡單方便，結果穩定一致。
? ﹡ ?現代模塊式設計，可根據實際應用需要允許選擇儀器的配置，以滿足將來的任何需要。
? ﹡ ?數據處理靈活方便，體積分布，數量分布和強度分布，微分與累計百分比以及其他綜合報告
? ? ? ?形式任意組合，數據存儲兼容性強。
? ﹡ ?NIST(National Institute of Standards & Technology)標準物質指定認證儀器。