奧林巴斯手持式超聲波測厚儀-物性測試儀器-儀器設備-生物在線
上海巴玖實業有限公司
奧林巴斯手持式超聲波測厚儀

奧林巴斯手持式超聲波測厚儀

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產品名稱: 奧林巴斯手持式超聲波測厚儀

英文名稱:

產品編號: 38DL PLUS

產品價格: 0

產品產地: 奧林巴斯

品牌商標: 奧林巴斯

更新時間: null

使用范圍: null

上海巴玖實業有限公司
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奧林巴斯手持式超聲波測厚儀

奧林巴斯手持式超聲波測厚儀產品簡介:

38DL?PLUS測厚儀是一款開創超聲測厚技術新時代的創新型儀器。這款手持式測厚儀可完美地適用于幾乎所有超聲測厚應用,而且與所有雙晶和單晶探頭完兼容。功能齊的38DL?PLUS測厚儀可用于各種應用,包括使用雙晶探頭對內壁腐蝕的管件進行的管壁減薄的測量,以及使用單晶探頭對薄壁或多層材料進行的其的壁厚測量。?
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38DL?PLUS的標準配置帶有很多既強大又易于使用的測量功能,以及一些專用于某些特殊應用的軟件選項。其密封機殼的設計符合IP67評要求,可以抵御其潮濕或多沙塵的嚴酷的環境條件。彩色透反VGA顯示功能使得測厚儀顯示屏無論在明亮的陽光下還是在完的黑暗中都能具有佳的可視性。測厚儀的鍵區既簡潔又符合人體工程學的要求。操作人員使用左手或右手即可輕易訪問所有功能。
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奧林巴斯手持式超聲波測厚儀主要特性:
??可與雙晶和單晶探頭兼容。?
??寬泛的厚度范圍:0.08毫米~635毫米,根據材料和所選探頭而定。?
??使用雙晶探頭進行腐蝕測厚。?
??穿透涂層和回波到回波測量功能,用于測量表面帶有漆層和涂層的材料。?
??內部氧化層/沉積物軟件選項。?
??對于所有探頭,標準分辨率為0.01毫米。?
??使用頻率范圍為2.25?MHz~30?MHz的單晶探頭,高分辨率軟件選項可進行分辨率為0.001
毫米的厚度測量。?
??多層軟件選項可對多達4個不同層同時進行測量。?
??高穿透軟件選項用于測量纖維玻璃、橡膠及厚鑄件等具有高衰減性的材料。?
??厚度、聲速和渡越時間測量。?
??差分模式和縮減率模式。?
??時基B掃描模式;每次掃查可獲得10000個可查讀數。?
??帶有數字式過濾器的Olympus高動態增益技術。?
??用于自定義V聲程補償的V聲程創建功能。?
??設計符合EN15317標準。
簡便操作的設計理念
??可用右手或左手單手操作的簡潔的鍵區。?
??可直接訪問所有功能的簡便易行的操作界面。?
??內置和外置MicroSD存儲卡。?
??USB和RS-232通訊端口。?
??可存儲475000個厚度讀數或20000個波形的字母數字式數據記錄器。?
??可連接計算機或顯示器的VGA輸出。?
??默認或自定義雙晶探頭設置。?
??默認或自定義單晶探頭設置。?
??密碼保護功能可以鎖住儀器的功能。
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數據記錄器和PC機接口
38DL?PLUS測厚儀帶有一個功能齊的內置雙向字母數字式數據記錄器,可方便地收集和傳輸厚度讀數和波形數據。?
??內置存儲容量為475000個厚度讀數或20000個帶有厚度讀數的波形。?
??32位字符的文件名稱。?
??20位字符的ID#?(TML#)編碼。?
??9個文件格式:增量型、序列型、帶自定義點的序列型、2-D柵格型、帶自定義點的2-D柵格型、3-D柵格型、3-D自定義型、鍋爐型及手動型。?
??每個ID#?(TML)編碼可多存儲4個注釋。?
??注釋可存儲到一個ID#編碼上或存儲到一系列ID#編碼上。?
??內置和外置MicroSD存儲卡。?
??可以在內置和外置MicroSD存儲卡之間拷貝文件。?
??標準USB和RS-232通信。?
??單晶和雙晶探頭設置的雙向傳輸。?
??機載統計報告。?
??機載DB柵格視圖,帶有3種可編程的顏色。?
??GageView接口程序通過USB或RS-232端口與38DL?PLUS測厚儀通信,可以讀取MicroSD存儲卡上的數據,還可以在存儲卡上寫入信息。?
??可將內部文件以與Excel兼容的CSV(以逗號分隔值)格式直接導出到MicroSD存儲卡。
GageView?
??基于Windows的GageView接口程序用于收集、創建、打印及管理來自38DL?PLUS測厚儀的數據。
??創建數據集和測量總結。
??編輯所存數據。
??顯示數據集和測量總結文件,文件包含厚度讀數、測厚儀設置值及探頭設置值。
??從測厚儀上下載厚度測量總結,或上傳厚度測量總結至測厚儀。
??將測量總結導出到電子表格及其他程序。
??收集捕獲的屏幕。
??打印有關厚度、設置表格、統計及彩色柵格的報告。
??升操作軟件。
??下載和上傳單晶和雙晶探頭設置文件。
??B掃描回顧
對內部腐蝕的金屬材料進行厚度測量
38DL?PLUS測厚儀的一個主要應用是測量那些受腐蝕或侵蝕的管道、管件、箱體、壓力容器、外殼及其他結構的剩余厚度。這些應用中常使用的是雙晶探頭。?
??用于標準D79X系列雙晶探頭的自動探頭識別功能。?
??10個自定義雙晶探頭設置。?
??校準過程中用于雙晶探頭的優化默認增益。?
??用于自定義V聲程補償的V聲程創建功能。?
??校準過程中出現回波加倍時使用的校準加倍功能。?
??用于測量帶有漆層和涂層表面的材料的穿透涂層和回波到回波測量功能。?
??高溫測量:溫度可高達500°C。?
??鍋爐管件和內部氧化層測量(可選項),使用M2017或M2091單晶探頭。?
??EMAT探頭(E110-SB),用于對外部附有氧化層/沉積物的鍋爐管件進行不使用耦合劑的厚度測量。
奧林巴斯手持式超聲波測厚儀
奧林巴斯手持式超聲波測厚儀技術參數】:
測量
雙晶探頭測量模式
從激勵脈沖后的延時到個回波之間的時間間隔。
穿透涂層測量模式
利用單個底面回波(使用D7906-SM和D7908探頭),測量金屬的實際厚度和涂層厚度。
穿透漆層回波到回波測量模式
在兩個連續底面回波之間的時間間隔,不計漆層或涂層的厚度。
單晶探頭測量模式
模式1:激勵脈沖與個底面回波之間的時間間隔。?
模式2:延遲線回波與個底面回波之間的時間間隔(使用延遲線式或水浸式探頭)。?
模式3:在激勵脈沖之后,位于個表面回波后的相鄰底面回波之間的時間間隔(使用延遲線式或水浸式探頭)。?
氧化層模式:可選。?
多層模式:可選。
厚度范圍
0.080毫米~635.00毫米,視材料、探頭表面條件、溫度和所選配置而定。
材料聲速范圍
0.508?mm/μs~13.998?mm/μs
分辨率(可選擇)
低分辨率:0.1毫米?
標準分辨率:0.01毫米?
高分辨率(可選項):0.001毫米
探頭頻率范圍
標準:2.0?MHz~30?MHz(-3?dB)?
高穿透(可選項):0.50?MHz~30?MHz(-3?dB)
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一般規格
工作溫度范圍
-10°C~50°C
鍵區
密封、以色彩區分功能的鍵盤,帶有觸感及聲音反饋。
機殼
防撞擊、防水、裝有密封墊的機殼;機殼上的接口密封。設計符合IP67標準。
外型尺寸(寬?x?高?x?厚)
總體尺寸:125毫米x211毫米x46毫米
重量
0.814公斤
電源
AC/DC適配器,24?V;鋰離子電池,23.760?Wh;或4節AA輔助電池。
鋰離子電池供電時間
工作時間:少12.6小時,一般14小時,多14.7小時??焖俪潆姡?小時到3小時。
標準
設計符合EN15317標準。
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顯示
彩色透反VGA顯示
液晶顯示,顯示屏尺寸:56.16毫米?X?74.88毫米
檢波
波、RF波、正半波、負半波
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輸入/輸出
USB
1.0從接口。
RS-232
有。
存儲卡
大容量:2?GB外置MicroSD存儲卡。
視頻輸出
VGA輸出標準。
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內置數據記錄器
數據記錄器
38DL?PLUS通過標準RS-232串口或USB端口識別、存儲、回放、清除、傳輸厚度讀數、波形圖像和儀器配置信息。
容量
475000個厚度測量讀數,或20000個帶厚度值的波形。
文件名稱、ID編碼及注釋
32位字符的文件名,20位字符的字母數字位碼,每個位有四個注釋。
文件結構
9個標準的或自定義的用于特定應用的文件結構。
報告
機載報告總結了數據統計、帶有位置信息的小值/大值、小值回顧、文件比較及報警報告。
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超聲波測厚儀使用注意事項:

1、在測量的時候要注意,側頭與試樣表面保持垂直。

2、在進行測試的時候要注意標準片集體的金屬磁性和表面粗糙度應當與試件相似。

3、在進行測試的時候要注意基體金屬的臨界厚度,如果大于這個厚度測量不受基體金屬厚度的影響。

4、在測量的時候要注意試件的曲率對測量的影響。因此在彎曲的試件表面上測量時不可靠的。

5、測量前要注意周圍其他的電器設備會不會產生磁場,如果會將會干擾磁性測厚法。

6、在測量時要保持壓力的恒定,否則會影響測量的讀數。

7、測量時要注意不要在內轉角處和靠近試件邊緣處測量,因為一般的測厚儀試件表面形狀的忽然變化很敏感。

8、在進行測試的時候要注意儀器測頭和被測試件的要直接接觸,因此超聲波測厚儀在進行對側頭清除附著物質。

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