作者：徠卡顯微系統（上海）貿易有限公司 2022-03-21T13:30 (訪問量:15224)
內容簡介：
研究者辛苦得到了實驗樣本，但是拍出的圖片可能有背景太高、人工分析繁瑣等的問題。這些不太理想的2D到5D（xy→xyztl）的data，可以使用Aivia機器學習功能進行分析——pixel classifier 和object classifier 工具可以迅速地自動識別感興趣結構，并進行計數、位置關系、信號強度等分析，幫助研究者快速得到可靠的結果，從數據中發現隱藏的細節。
這次培訓我們選取了三個有代表性的圖片，來向大家展示Aivia的強大數據分析能力。
1、高背景厚樣本
2、結構不規則的熒光圖像
3、依賴于手動分析的電鏡圖片
數據來源：廈門大學生物醫學儀器共享平臺，電鏡室姚路明博士、吳彩明博士
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時間：2022年4月19日 14:30-15:30
主講
包沈源博士
畢業于華東理工大學先進材料與制備技術專業。博士后工作于華東理工大學物理化學專業?，F任職于徠卡顯微系統材料電鏡制樣工程師，長期從事材料制備和電鏡圖像分析工作，從理論基礎到分析表征都具有豐富經驗。
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