Black-wave 凹面光柵光纖光譜儀
獨特凹面光柵設計,用于UV/VIS/NIR應用• 減少表面光折射• 平滑光柵降低光散射
Accusizer780SIS
AccuSizer 780/SIS型粒度分析儀采用全封閉式系統設計,便于用戶進行清洗,且杜絕外界對系統的污染,使進樣、分析的誤差減少。尤其適用于實驗室中,對微量樣品做精確的粒徑分析,是PSS公司產品中早獲得美國FDA認證的分析儀器。
在線折光儀
PR21折光儀直接安裝在管道和鍋爐中,適用于化工,飲料,食品,造紙和制糖過程監測,控制和產品分離。無需安裝特殊管線或旁線,大大簡化了在管道和化學反應器上的安裝.
Alignmeter激光準直儀
用于測量激光光束的位置、角度和功率,特點:光譜范圍350-1100nm 、位置精度±15um、角度精度±0.125mrad、功率精度±5%、USB2.0通訊或RS232或TCP/IP進行數據傳輸、ActiveX軟件可實現客戶端的二次開發功能
美國SVC HR-1024便攜式地物光譜儀
根據20年在遙測領域方面的經驗,Spectra Vista公司再次在便攜式分光輻射度計的領域上提高了其技術水平。其新式的SVC HR-1024全光譜地物波譜儀能夠在整個VIS-NIR-SWIR領域內獲取高的光譜分辨率。
顯微紫外可見近紅外分光光度計
MSV-5000系列是測量紫外區域到近紅外區域廣范圍波長領域內的微小樣品以及微小部位的透過・反射測量的顯微分光系統。廣泛應用于電子元件的透過・反射特性的評價、半導體的能隙測量,計測膜厚、功能性結晶光學特性評價、色彩分析等領域。
ICP-AES
電話:13521683201,李新路,由我公司研發,生產的原子發射光譜儀,能進行多種元素分析,且分析速度極快,應用面廣,可分析70多種元素,包括周期表中所有的金屬元素和部分非金屬元素。該型儀器穩定性好、測量范圍寬、檢出下限低、分辨率高、靈敏度高。
自動絕對反射率測量系統
自動絕對反射率測量裝置一邊變化照到樣品的入射角,一邊測量反射率以及透過。用于太陽能電池零件,半導體,薄膜,光學元件等各種固體樣品的分光特性或者膜厚等的測量。入射角通過旋轉樣品臺設定,受光角通過滑動積分球控制。另外,能用非同步方式分別設定入射角和受光角
膜厚測定裝置
自動絕對反射率測量裝置一邊變化照到樣品的入射角,一邊測量反射率以及透過。用于太陽能電池零件,半導體,薄膜,光學元件等各種固體樣品的分光特性或者膜厚等的測量。入射角通過旋轉樣品臺設定,受光角通過滑動積分球控制。另外,能用非同步方式分別設定入射角和受光角
