原子力顯微鏡（Atomic Force Microscope，AFM）是一種高分辨率的顯微鏡，能夠以納米級別的精度研究材料表面結構和性質。
原子力顯微鏡* 其核心功能是通過一個極其尖銳的探針（探針尖端的曲率半徑可達納米級）來“觸摸”或“感知”樣品表面。
與光學顯微鏡依賴光波、電子顯微鏡依賴電子束不同，AFM依賴的是探針尖端的原子與樣品表面原子之間極其微弱的相互作用力（如范德華力、靜電力、磁力、毛細力等）來獲取信息。
通過精確控制探針在樣品表面的逐點掃描，AFM不僅能夠以納米甚至原子級別的分辨率生成樣品表面的三維形貌圖像，還能同步測量和表征樣品的多種物理化學性質，如硬度、彈性、摩擦力、粘附力、電學、磁學及熱學特性等。
這種多功能性使其適用于從硬質材料到柔軟生物樣本的各種研究對象，并且可以在大氣、液體、真空等多種環境下工作。
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